Электронная микроскопия (сэм)

Проведение анализа образцов на сканирующем электронном микроскопе поможет решить большое количество разнообразных задач связанных с контролем качества либо исследованием различных изделий, материалов как органического так и не органического происхождения. - Получение четкого субмикронного изображения поверхности - Возможность проведения элементного состава На практике СЭМ позволяет выявить дефекты, получить информацию о морфологии поверхность (внешний вид, структура и.т.д. с увеличением до 100 000 крат), определить состав материалов/металлов и их однородность, наличие примесей или инородных включений. Эти и другие возможности СЭМ могут быть очень полезны как на производстве (брак изделий, внедрение новых технологий, презентации) так и в научных/лабораторных работах. По всем вопросам можно звонить по телефону, писать в WhatsApp.